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基于 NV 色心系綜的磁強(qiáng)測(cè)量金剛石中的氮空位 (NV) 中心系綜因具有在通常環(huán)境條件下實(shí)現(xiàn)靈敏且寬視場(chǎng)的磁成像能力, 因此可用作測(cè)...查看詳情 -
微流控/單細(xì)胞檢測(cè)和分類生物系統(tǒng)工程的發(fā)展對(duì)細(xì)胞和亞細(xì)胞成分(細(xì)胞核,RNA,DNA)的電阻抗譜測(cè)量提出了更高的要求。與...查看詳情 -
掃描近場(chǎng)顯微術(shù) (SNOM)掃描近場(chǎng)顯微術(shù) (SNOM) 是一類對(duì)納米尺度下光與物質(zhì)的相互作用進(jìn)行測(cè)量的掃描探針顯微鏡技術(shù),可用...查看詳情 -
開爾文探針力顯微鏡 (KPFM)開爾文探針力顯微鏡(簡(jiǎn)稱 KPFM、KFM 或 SKFM)是一種基于原子力顯微鏡 (AFM) 的技術(shù),適...查看詳情 -
泵浦-探測(cè)光譜泵浦-探測(cè)(pump-probe)是一種利用短激光脈沖測(cè)量超快現(xiàn)象的技術(shù)。當(dāng)泵浦光照射在樣品上時(shí),可以激發(fā)...查看詳情 -
深能級(jí)瞬態(tài)光譜檢測(cè)(DLTS)深能級(jí)瞬態(tài)光譜檢測(cè)(DLTS)是一種強(qiáng)大的技術(shù),常用于研究半導(dǎo)體中缺陷的濃度和載流子結(jié)合能。該技...查看詳情 -
光致發(fā)光光致發(fā)光是一種常用來表征半導(dǎo)體或者其他材料的光電性質(zhì)的技術(shù)。其原理十分簡(jiǎn)單:一束光子能量大于材料...查看詳情 -
激光電壓探測(cè)和成像激光電壓探測(cè) (LVP) 和激光電壓成像 (LVI) 是在電性失效分析中所采用的技術(shù),可在受控模式下對(duì)單個(gè)...查看詳情


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